PIPS-α谱仪探测效率蒙特卡罗模拟及其影响因素

• 作者: 刘宇琦 庹先国 石睿 许阳阳 郑洪龙
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: PIPS-α谱仪 探测效率 几何因子 本征探测效率 MC模拟
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 核科学与工程
• 页码范围: 151-156
• 页数: 6页
• 分类号: TL99
• 字数: 3617字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201729.170108

摘要

在α放射源能谱测量过程中,PIPS-α谱仪探测效率的影响因素有几何因子、空气层吸收、死层吸收、本征探测效率等,为了更精确地计算α放射源的活度,分析母体核素种类和浓度,探究各因素对探测效率的影响具有重要意义.使用蒙特卡罗软件模拟不同探源距、真空度下的α放射源的能谱测量;使用SRIM模拟5 MeV α粒子在空气和死层中的射程及分布;使用PIPS-α谱仪测量241 Am,238 Pu,239Pu三种标准源的实际能谱;根据实验与模拟的结果对各个因素对探测效率的影响进行分析,并计算得到谱仪对不同α放射源的本征探测效率.结果表明:在PIPS-α谱仪的能谱测量过程中,影响谱仪探测效率的主要因素是几何因子和本征探测效率,空气层和死层对α粒子的吸收可以忽略不计;谱仪对241 Am,238Pu,239Pu三种标准源的本征探测效率分别为64.84％,49.95％,51.55％.