模拟冷链温度波动对CdTe量子点荧光淬灭性能的影响

• 作者: 杨加敏 胥义 钮怡清
• 来源期刊: 农业工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 温度 荧光 淬灭 冷链模拟 CdTe量子点
• 年，卷（期）: 2017,（18）
• 所属期刊栏目: 农产品加工工程
• 页码范围: 291-297
• 页数: 7页
• 分类号: TS205.7
• 字数: 4598字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11975/j.issn.1002-6819.2017.18.038

摘要

为了探索CdTe量子点在冷链储运过程中的荧光淬灭性能,分别研究了贮藏温度(25、4、-5和-20℃)、温度波动幅度(4℃波动至25℃和40℃)以及波动频率(每30min和60min波动)等因素对其的影响程度.研究结果表明,贮藏温度及时间对量子点荧光淬灭有显著影响(P＜0.05),贮藏温度越高,量子点荧光淬灭速度越快;冷链环境模拟试验发现冷链温度波动幅度越大、波动频率越高,量子点荧光淬灭速度越快,这与食品品质变化特点极其相似;且贮藏温度、温度波动幅度和频率对量子点HSV值有显著影响.研究结论表明,CdTe量子点在食品冷链储运监控方面具有一定的应用潜力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胥义	上海理工大学医疗器械与食品学院	71	367	9.0	16.0
2	钮怡清	上海理工大学医疗器械与食品学院	4	7	2.0	2.0
3	杨加敏	上海理工大学医疗器械与食品学院	3	1	1.0	1.0