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摘要:
提出一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性测量方法.该方法利用液晶构建相位分别为0和φ的二值光栅,通过傅里叶光学的方法推导衍射光栅第0级衍射光斑光强和调制相位φ之间的关系,然后实测光强和液晶驱动电压之间的对应关系来得到相位和液晶驱动电压之间的对应关系,即液晶相位光栅的相位调制特性.最后利用测量相位调制特性结果构建液晶相控阵,用光束偏转误差验证调制特性测量结果,相位测量误差小于1×10-3 rad.
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文献信息
篇名 一种液晶相位调制特性的测量方法
来源期刊 光子学报 学科 物理学
关键词 衍射光栅 液晶 傅里叶光学 调制特性 相控阵
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目 衍射与光栅
研究方向 页码范围 88-95
页数 8页 分类号 O436.1
字数 语种 中文
DOI 10.3788/gzxb20174601.0105001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄永梅 中国科学院光电技术研究所 29 467 11.0 21.0
5 傅承毓 中国科学院光电技术研究所 31 581 12.0 23.0
9 杜升平 中国科学院光电技术研究所 9 48 5.0 6.0
18 汪相如 电子科技大学光电信息学院 15 60 5.0 6.0
19 罗传欣 中国科学院光电技术研究所 2 12 2.0 2.0
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傅里叶光学
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光子学报
月刊
1004-4213
61-1235/O4
大16开
西安市长安区新型工业园信息大道17号47分箱
52-105
1972
chi
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