电缆接头内部气隙放电缺陷下的绝缘劣化程度表征方法

• 作者: 杨帆 杨旗 杨永明 王晓宇 程鹏
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电缆接头 气隙放电 等离子体-化学模型 劣化评估
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 放电等离子体及应用专题Ⅱ
• 页码范围: 24-32
• 页数: 9页
• 分类号: TM247
• 字数: 5177字
• 语种: 中文

摘要

为研究电缆接头绝缘材料内部气隙放电造成的绝缘裂化程度表征方法,建立基于等离子体-化学的气隙放电混合模型.该模型考虑了泊松方程、电子运输方程、电子能量运输方程、重粒子运输方程以及气隙中主要气体12种粒子等离子化学反应,同时考虑了二次电子发射以及表面电荷积累过程.基于上述模型,结合有限元软件对电缆接头绝缘材料内部气隙放电过程进行仿真.应用参数扫描方法计算得到不同气隙长度下放电脉冲波形,并记录得到不同气隙放电长度下电缆接头放电相位、放电次数及放电幅值特征.统计分析结果表明,随着电缆接头内部气隙增加,放电信号相位、放电脉冲次数以及放电幅值具有明显区别,并将电缆接头放电过程划分为初始阶段、发展阶段、预击穿阶段.基于放电相位、放电次数及放电幅值的特征参数为评估电缆接头绝缘内部气隙放电的裂化程度提供了参考依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓宇	国网浙江省电力公司电力科学研究院	7	7	2.0	2.0
2	程鹏		1	0	0.0	0.0