直流GIL中附着导电微粒对绝缘子表面电荷积聚特性的影响分析

• 作者: 周勇 张圣富 李伯涛 李士动 李庆民 王健
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 直流GIL 电荷积聚 附着微粒 电荷测量平台
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 80-86
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2017.07.013

摘要

导电微粒污染是直流GIL绝缘强度劣化的重要影响因素,为研究其对柱式绝缘子表面电荷积聚的影响,文中搭建了考虑导电微粒情况的电荷测量平台.首先探究了绝缘子表面电荷积聚的时间效应,并在此基础上进一步研究了微粒附着位置、微粒长度、微粒直径对表面电荷积聚的影响.结果表明:附着绝缘子表面的导电微粒可引起表面电荷的积聚激增,其中与电极接触的微粒引起的电荷激增量更为显著;随微粒长度增加,微粒引起电荷积聚增强,而微粒直径对电荷积聚的影响并没有明显的线性规律;与正电荷相比,负电荷更易发生积聚.