一种低功耗双重测试数据压缩方案

• 作者: 任福继 刘军 易鑫 梁华国 王伟 陈田
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测试向量相容 低功耗测试 测试数据压缩 双重压缩
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1382-1388
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 5278字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.06.015

摘要

随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试集中的确定位数量,之后再进行第一级压缩,即对测试向量按多扫描划分为子向量并进行相容压缩,压缩后的测试向量可用更短的码字表示;接着再对测试数据进行低功耗填充,先进行捕获功耗填充,使其达到安全阈值以内,然后再对剩余的无关位进行移位功耗填充;最后对填充后的测试数据进行第二级压缩,即改进游程编码压缩.对ISCAS89基准电路的实验结果表明,本文方案能取得比golomb码、FDR码、EFDR码、9C码、BM码等更高的压缩率,同时还能协同优化测试时的捕获功耗和移位功耗.