X射线发光光学断层成像的研究进展

• 作者: 严壮志 刘欣 束月霞 罗建文 蒋皆恢 赵丽丽
• 来源期刊: 科学通报
• 关键词: X射线发光光学断层成像 X射线 光学分子成像 纳米发光材料 成像系统 重建技术
• 年，卷（期）: 2017,（33）
• 所属期刊栏目: 评述
• 页码范围: 3838-3850
• 页数: 13页
• 语种: 中文
• DOI: 10.1360/N972017-00238

摘要

X射线发光光学断层成像(XLOT)是一种利用X射线照射生物体内的纳米发光材料进行成像的新型光学分子成像技术.对比现有光学分子成像技术,XLOT能够同时进行功能和结构成像,并且具有更高的成像深度和成像分辨率,具有广泛的应用前景.本文对XLOT成像技术的研究现状进行综述,回顾了不同XLOT系统的成像原理、系统组成以及各自的优缺点,概述了现有XLOT重建方法及其最新进展,总结了目前XLOT中常用的成像探针,在此基础上,介绍了XLOT技术在预临床诊断上的应用现状,最后对XLOT未来的研究方向进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗建文		29	674	7.0	25.0
2	刘欣		21	312	5.0	17.0
3	束月霞		1	0	0.0	0.0
4	赵丽丽		3	7	2.0	2.0
5	蒋皆恢		1	0	0.0	0.0
6	严壮志		1	0	0.0	0.0