单片机测控系统中抗干扰技术分析

• 作者: 何永乐 邵艳雪
• 来源期刊: 技术与市场
• 关键词: 单片机 测控系统 抗干扰技术 分析
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 技术研发
• 页码范围: 68-68
• 页数: 1页
• 字数: 1712字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8554.2017.01.034

摘要

在工业领域中，单片机测控系统所处环境十分复杂，很容易受诸多因素的干扰，甚至会致使系统整体陷入瘫痪状态。为此，针对系统干扰因素的研究十分重要，同样，需要从硬件与软件两方面入手，积极采取抗干扰技术，以保证系统实际应用的可操作性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邵艳雪		2	5	1.0	2.0
2	何永乐		2	5	1.0	2.0