电导法结合二次回归正交旋转组合设计确定黄瓜果实低温冷害临界值

• 作者: 刘威 张敏 朱赛赛 李春晖 艾文婷 邵婷婷
• 来源期刊: 食品科学
• 学科: 工学
• 关键词: 黄瓜 冷害指标 电导法 二次回归正交旋转组合设计
• 年，卷（期）: 2017,（19）
• 所属期刊栏目: 包装贮运
• 页码范围: 218-222
• 页数: 5页
• 分类号: TS255.3
• 字数: 4369字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7506/spkx1002-6630-201719035

摘要

为探索黄瓜果实对低温的忍受能力,为安全运输提供理论依据,本实验采用电导法结合二次回归正交旋转组合设计来确定黄瓜果实低温冷害临界值.以黄瓜电解质外渗百分率为冷害指标建立模型,得到回归方程Y=17.279 244+0.996 139x1+3.617 484x2-0.142 947x12-0.136 832x22,根据模型得出电解质外渗百分率在黄瓜受到冷害时的临界值及温度、时间对冷害的影响.最终通过验证实验确定黄瓜受到冷害时电解质外渗率的临界值为17.28％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张敏	上海海洋大学食品学院	57	345	10.0	16.0
2	艾文婷	上海海洋大学食品学院	6	28	4.0	5.0
3	李春晖	上海海洋大学食品学院	5	19	3.0	4.0
4	朱赛赛	上海海洋大学食品学院	8	54	4.0	7.0
5	邵婷婷	上海海洋大学食品学院	4	15	2.0	3.0
6	刘威	上海海洋大学食品学院	4	15	2.0	3.0