航天电子产品贮存期评估方法研究

• 作者: 向刚 苗静 邱丰
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子设备 贮存期 加速试验 评估
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN601
• 字数: 3651字
• 语种: 中文

摘要

航天电子产品具有长寿命、小子样、失效机理复杂等特点,难以通过传统的统计方法对其贮存期进行评估.通过对元器件进行加速贮存试验,给出了一种元器件的退化方程、伪失效寿命、加速因子以及激活能的计算方法,然后在元器件加速贮存试验的基础上提出了一种基于失效率的航天电子产品加速因子算法,该算法只需得到整机元器件数量、失效率激活能即可计算加速因子,最后对某控制器进行加速寿命试验,验证了所提出的贮存期评估方法的正确性以及工程适应性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱丰		4	15	2.0	3.0
2	向刚		2	2	1.0	1.0
3	苗静		1	2	1.0	1.0