光纤放大器放大自发辐射特性与高温易损点位置

• 作者: 周朴 姜宗福 张汉伟 王小林 粟荣涛 罗亿 马鹏飞
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 光纤放大器 放大自发辐射 温度特性
• 年，卷（期）: 2017,（23）
• 所属期刊栏目: 电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
• 页码范围: 189-203
• 页数: 15页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.66.234206

摘要

在高功率光纤放大器实验中,时常发现增益光纤抽运注入熔接点后10—50 cm处容易发生光纤烧毁现象.为了对该现象进行理论预测,基于光纤激光器速率方程模型和增益光纤的热传导模型,从种子功率、抽运功率和抽运吸收三个方面对掺镱双包层光纤放大器中的放大自发辐射(ASE)和温度特性进行研究.结果表明,在放大倍率较高、ASE较为严重等情况下,光纤放大器中的最高温度点一般不在抽运注入的熔接点处,而在距离熔接点10—50 cm处,与实验中发现光纤烧毁的位置基本符合.从光纤放大器的ASE抑制、最高温度点温度控制角度出发,对光纤放大器在种子功率、抽运功率、抽运吸收、放大倍率和抽运波长等方面的设计给出了指导性的建议.