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基于杂散光抑制要求的光学表面粗糙度控制方法研究
基于杂散光抑制要求的光学表面粗糙度控制方法研究
作者:
宋延松
李福
杨建峰
王红
马小龙
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
表面粗糙度
杂散光
全积分散射
双向散射分布函数
摘要:
光学表面加工误差引起的散射是影响光学系统成像性能的重要因素.描述表面总散射能量的均方根粗糙度是评定光学表面粗糙度的通用指标,但因其未能体现散射能量的空间分布,在表征光学表面散射对具体光学系统杂散光性能影响时存在准确度不足的局限.本文基于全积分散射及双向散射分布函数理论,针对杂散光抑制要求提出一种光学表面粗糙度控制的新方法.首先通过分析确定光学表面纹理中影响系统杂散光的空间频率范围,然后度量该频率带限范围内的表面均方根粗糙度,作为控制光学表面粗糙度的指标.以太阳磁场望远镜(MFT)为例进行方法验证,确定主镜表面纹理有效频率范围为0—18 mm?1,分析了主镜表面带限均方根粗糙度对MFT杂散光性能的影响.结果表明,带限均方根粗糙度与MFT杂散光性能之间的关系稳定性能大幅提高,由此验证了采用带限均方根粗糙度描述光学表面粗糙度,能更为准确地控制其对具体光学系统杂散光性能的影响.
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文献信息
篇名
基于杂散光抑制要求的光学表面粗糙度控制方法研究
来源期刊
物理学报
学科
关键词
表面粗糙度
杂散光
全积分散射
双向散射分布函数
年,卷(期)
2017,(19)
所属期刊栏目
电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
研究方向
页码范围
76-85
页数
10页
分类号
字数
语种
中文
DOI
10.7498/aps.66.194201
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李福
中国科学院西安光学精密机械研究所
18
194
7.0
13.0
2
王红
中国科学院西安光学精密机械研究所
125
1755
25.0
35.0
6
杨建峰
中国科学院西安光学精密机械研究所
97
1262
20.0
30.0
7
马小龙
中国科学院西安光学精密机械研究所
26
274
11.0
16.0
8
宋延松
中国科学院西安光学精密机械研究所
3
7
2.0
2.0
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引证文献(2)
二级引证文献(0)
2020(2)
引证文献(1)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
表面粗糙度
杂散光
全积分散射
双向散射分布函数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
主办单位:
中国物理学会
中国科学院物理研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-3290
CN:
11-1958/O4
开本:
大16开
出版地:
北京603信箱
邮发代号:
2-425
创刊时间:
1933
语种:
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
174683
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