一种MCU的测试解决方案

• 作者: 陈元 高剑
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 单片机 MCU测试 测试向量
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 23-25,27
• 页数: 4页
• 字数: 4119字
• 语种: 中文

摘要

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点.文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案.使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈元	集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所	1	0	0.0	0.0
2	高剑	集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所	1	0	0.0	0.0