全日盲紫外成像探测仪光学系统设计

• 作者: 潘瑞龙 董建新 袁晓辉
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 紫外成像 探测仪 同轴光学系统 分辨率
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 电子技术应用
• 页码范围: 152-155
• 页数: 4页
• 分类号: TN02-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2017.01.041

摘要

全日盲紫外成像探测仪可对架空输电线路产生的电晕进行早期探测，降低电力设备损伤。紫外物镜作为全日盲紫外成像探测仪的核心元器件，其性能指标直接影响探测仪的性能。针对电晕检测系统大多存在光能利用率不足的问题，设计了一种基于分色分光的同轴光学系统，消除了中心视场遮拦，增大了紫外光通道的通光口径，有效提高了电晕探测系统的能量收集能力。设计的紫外物镜全视场全探测范围内点列图均方根小于0.14 mm，满足紫外电晕探测的分辨率需求。相较于国外紫外成像探测仪的光学系统，分色分光同轴光学系统的全日盲紫外成像探测仪对能量的收集能力明显高于国外紫外成像探测仪。