通用自动化测试设备的接口设计

• 作者: 姜明明 曹建安 王振兴 王文奇 程帅
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 自动化测试设备 PXI总线 FPGA
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 总线与网络
• 页码范围: 96-99
• 页数: 4页
• 分类号: TP271
• 字数: 2811字
• 语种: 中文

摘要

面向工业测试领域中不同类型和特征的被测试与激励信号,采用通用自动化测试设备,通过更换不同的信号板卡,能满足测试与激励的多样性.针对PXI通用自动化测试平台,采用FPGA构建的测试板卡,既能实现和PXI总线的通用接口,也能完成本地总线的控制和数据采集,形成一个通用的PXI板卡设计模板.最后,基于该思想完成的离散量板卡和通信板卡设计,表明该通用设计方法具有可移植性强、硬件复用容易等特点,进而极大地降低了设计强度和难度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹建安	西安交通大学电气工程学院	73	1192	16.0	33.0
2	王振兴	西安交通大学电气工程学院	9	43	4.0	6.0
3	程帅	西安交通大学电气工程学院	2	7	1.0	2.0
4	王文奇		4	13	3.0	3.0
5	姜明明	西安交通大学电气工程学院	1	6	1.0	1.0