高压瓷绝缘子红外热像检测盲区研究

• 作者: 万亚玲 付强 姚建刚 张也 彭子健 李唐兵 郭良
• 来源期刊: 电网技术
• 学科: 工学
• 关键词: 瓷绝缘子 红外热像 电网络法 分布电压 检测盲区 发热模型
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 高电压技术
• 页码范围: 3705-3712
• 页数: 8页
• 分类号: TM721
• 语种: 中文
• DOI: 10.13335/j.1000-3673.pst.2017.0135

摘要

为提高红外成像法检测劣化绝缘子的准确性,提出一种基于电网络法的红外热像检测盲区分析方法.根据绝缘子串电压分布,结合绝缘子的发热模型,对比了理想条件下和存在测量误差时的红外热像检测盲区,并就盲区绝缘子对绝缘子串整体温升的影响进行了分析.仿真和试验结果表明:红外热像检测盲区的大小由绝缘子在串中的位置和测量误差决定,绝缘子串两端的绝缘子处于盲区时,对整串绝缘子存在明显的温升抬升效应.根据仿真及试验所得的规律,提出减少红外热像检测盲区的措施,为绝缘子劣化检测提供参考和方法借鉴.