改进型程序切片方法的测试需求约简技术研究

• 作者: 刘锋 张军 朱二周 马竹娟
• 来源期刊: 传感器与微系统
• 学科: 工学
• 关键词: 程序切片 测试需求约简 耦合度 六元结构表
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 17-21,24
• 页数: 6页
• 分类号: TP311
• 字数: 4862字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13873/J.1000-9787(2017)09-0017-05

摘要

传统的测试用例集约简技术大多采用由测试需求集直接生成测试用例集的方法.该方法虽然能够约简测试用例集,但出现测试需求冗余,约简后的测试用例集不够精准等问题.针对这些问题,提出了一种基于六元结构表的程序切片方法.利用程序切片精简测试代码,省去构造程序依赖图的复杂步骤;根据代码间的相互关系和模块间的耦合度,利用启发式算法约简测试需求;在约简后的测试需求上,精简测试用例集.将该方法应用到当前主流的Android平台上比较约简前后G,GRE的用例集.实验结果表明:约简后的测试需求集能够在获得较少的测试用例集的前提下保证较高的覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘锋	安徽大学计算机科学与技术学院	77	392	11.0	16.0
2	马竹娟	安徽农业大学经济技术学院	9	38	4.0	6.0
3	张军	安徽大学计算机科学与技术学院	62	128	5.0	7.0
4	朱二周	安徽大学计算机科学与技术学院	19	157	7.0	12.0