二次电压对AZ91D镁合金微弧氧化封孔的影响

• 作者: 张鸽 郝建民 陈宏 陈永楠 黄杰
• 来源期刊: 表面技术
• 学科: 工学
• 关键词: 镁合金 微弧氧化 自封孔 耐蚀性 孔隙率 二次电压
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 专题——轻合金微弧氧化技术
• 页码范围: 12-16
• 页数: 5页
• 分类号: TG174.44
• 语种: 中文
• DOI: 10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2017.05.003

摘要

目的 提高镁合金微弧氧化膜层的耐蚀性.方法 在锆盐体系电解液中对AZ91D镁合金进行微弧氧化处理,通过调节二次电压对AZ91D镁合金微弧氧化膜层的孔隙进行封闭,采用XRD、SEM和电化学测试分别对微弧氧化膜层的物相、表面形貌和耐蚀性进行了研究.结果 二次电压对膜层的相成分没有影响,主要相组成为MgO、MgF2、ZrO2、Mg2Zr5O12.随着二次电压的升高,膜层表面放电微孔孔径先减小后增大,孔隙率先降低后升高.与没有二次电压相比,施加二次电压的腐蚀电流降低2~3个数量级,极化电阻升高1~2个数量级,耐蚀性明显提高,且当二次电压为160 V时,膜层的极化电阻最高,耐蚀性最好.结论 二次电压能够对AZ91D镁合金微弧氧化膜层的孔隙进行封闭,进而阻止腐蚀液通过微孔进入基体,提高膜层的耐蚀性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈宏		54	743	14.0	26.0
2	郝建民		80	930	17.0	28.0
3	陈永楠		52	117	6.0	8.0
4	黄杰		1	4	1.0	1.0
5	张鸽		2	8	2.0	2.0