一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路的生成系统

• 作者: 侯立刚 叶彤旸 彭晓宏 杨扬 耿淑琴
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: DEF库 Bookshelf库 测试基准电路 自定制 3D集成电路
• 年，卷（期）: 2017,（24）
• 所属期刊栏目: 科学计算与信息处理
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TN431.2-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2017.24.002

摘要

提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路.通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者DEF库文件,实现物理设计库中的电路的互联线网连接信息,标准单元尺寸、端口信息,标准单元坐标信息以及布局信息自动转换.可以将任意2D电路设计转换为3D测试基准电路,并且兼容2D集成电路的物理设计流程,可在传统物理设计EDA工具中布局布线.最终,可以实现自定制的3D测试基准电路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯立刚	北京工业大学电子信息与控制工程学院	75	360	11.0	15.0
2	耿淑琴	北京工业大学电子信息与控制工程学院	39	170	7.0	11.0
3	杨扬	北京工业大学电子信息与控制工程学院	3	9	2.0	3.0
4	彭晓宏	北京工业大学电子信息与控制工程学院	37	138	7.0	10.0
5	叶彤旸	北京工业大学电子信息与控制工程学院	1	2	1.0	1.0