单片物料厚度对胡萝卜红外薄层干燥水分迁移的影响

• 作者: 孙传祝 王相友 石东岳 魏忠彩
• 来源期刊: 食品科学
• 学科: 工学
• 关键词: 低场核磁共振 红外辐射 胡萝卜 单片物料厚度 薄层干燥 水分迁移
• 年，卷（期）: 2017,（13）
• 所属期刊栏目: 基础研究
• 页码范围: 53-59
• 页数: 7页
• 分类号: TS255
• 字数: 6546字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7506/spkx1002-6630-201713009

摘要

为探讨胡萝卜红外薄层干燥条件下的水分迁移规律,选择单片物料厚度h、料层厚度δ、干燥温度T、功率密度g和辐射距离L为影响因素进行试验,并借助低场核磁共振技术研究了横向弛豫时间T2x、峰面积A2x和峰比例S2x的变化规律.结果发现,干燥中期,各单片物料厚度h的自由水流动性下降60％以上,而水分含量趋于0;不易流动水、结合水的水分含量增幅分别为不大于3倍、3～6倍.干燥至120 min,各单片物料厚度h的自由水峰面积占总水峰面积的比例下降至15％以下,结合水所占比例增大至65％以上,而不易流动水所占比例呈“双峰”现象.随着单片物料厚度h的增大,水分有效扩散系数Deff下降30％;发现Page模型可较好地预测红外薄层干燥中水分比的变化.本研究成果为进一步探讨农产物料的红外干燥规律及干燥设备的研发提供了理论参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王相友	山东理工大学农业工程与食品科学学院	121	1487	19.0	31.0
2	孙传祝	山东理工大学机械工程学院	89	373	10.0	16.0
3	魏忠彩	中国农业大学工学院	9	56	5.0	7.0
4	石东岳	山东理工大学机械工程学院	3	24	3.0	3.0