装备电子设备边界扫描系列标准及测试性设计技术研究

• 作者: 刘萌萌 宋成军 苏峰
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 测试 边界扫描 测试性设计 标准 数模混合电路
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2017.02.002

摘要

随着新一代电子产品的复杂化和密集程度的不断提高,电路和系统的可测试性急剧下降,传统测试技术已经不能满足需要;针对我国军用电子设备的测试及诊断工作需求,通过对IEEE1149系列边界扫描测试标准进行了研究分析,分析各标准的特征范围、适用对象、各标准相互关系,可以分析梳理IEEE1149标准在我国军用电子设备测试性设计中的可行性和适用性,探索得到将边界扫描技术在测试性设计上的应用思路;将边界扫描技术应用于电子设备不同范围的测试设计,能有效地解决传统测试性设计的问题,能够提升诊断能力,缩减产品生产周期及研制费用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘萌萌	中国航空综合技术研究所质量工程中心	6	9	2.0	2.0
2	宋成军	中国航空综合技术研究所质量工程中心	3	5	2.0	2.0
3	苏峰	中国航空综合技术研究所质量工程中心	3	5	2.0	2.0