激光测距在表面缺陷检测中的应用

• 作者: 廖延娜 范坤
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 激光测距 图像重建 缺陷检测 OpenCV
• 年，卷（期）: 2017,（22）
• 所属期刊栏目: 电子测量与仪器
• 页码范围: 145-148
• 页数: 4页
• 分类号: TN98-34|TP391.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2017.22.043

摘要

精密工件在生产和运输过程中其表面会产生缺陷,长度和深度达到一定值的缺陷会影响设备的运行.传统的缺陷检测只是检测缺陷并未考虑缺陷长度和深度因素,因此提出将激光测距应用于表面缺陷检测.首先用激光轮廓仪获得的距离数据重建工件表面图像,再利用数字图像处理相关理论及OpenCV计算机视觉技术提取重建图像中缺陷像素位置信息并与实际距离数据对应,进而计算出缺陷的参考长度和深度.经过大量重复试验,缺陷的参考长度和人工使用游标卡尺测量的长度误差小于0.1mm,参考深度稳定,检测速度快,具有一定的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖延娜	西安邮电大学理学院	28	87	6.0	8.0
2	范坤	西安邮电大学电子工程学院	1	3	1.0	1.0