航天继电器贮存过程吸合时间退化机理研究

• 作者: 叶雪荣 林义刚 翟国富 黄晓毅
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 航天继电器 贮存 吸合时间 应力松弛
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 电机与电器
• 页码范围: 173-179
• 页数: 7页
• 分类号: TM581.3
• 字数: 3639字
• 语种: 中文

摘要

航天继电器作为一种密封的电器元件,其贮存可靠性对于导弹等武器装备至关重要.如何测试评价航天继电器在贮存过程中性能及可靠性的衰退,是继电器用户和厂家非常关心的问题.利用开发的实验系统对某型号航天继电器进行了贮存加速实验,得到了吸合时间的变化规律.分析并验证了贮存过程中吸合时间变化的主要原因是簧片应力松弛所导致的反力变化.通过仿真与实验均证实了吸合时间与簧片初力存在近似的线性关系,进而提出可采用吸合时间来表征簧片的应力松弛退化特性.建立了高温条件下继电器吸合时间的贮存退化模型,为进一步研究继电器贮存可靠性及贮存寿命预测奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	280	2576	26.0	34.0
2	叶雪荣	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	56	265	9.0	13.0
3	林义刚	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	4	5	2.0	2.0
4	黄晓毅	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	3	22	2.0	3.0