高压直流绝缘材料表面电荷积聚研究进展

• 作者: 傅明利 卓然 唐炬 潘成 王邸博
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 直流 绝缘材料 表面电荷 积聚 综述
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 放电等离子体及应用专题Ⅲ
• 页码范围: 10-21
• 页数: 12页
• 分类号: TM85
• 字数: 6415字
• 语种: 中文

摘要

随着直流输电技术的发展,直流气体绝缘金属封闭开关设备(GIS)因其具有占地面积小、可靠性高、维护少等优点已得到越来越多的关注.相比交流GIS,直流GIS盆式绝缘子存在严重的表面电荷积聚问题,导致其沿面闪络特性下降,制约着直流GIS的工程应用.目前关于高压直流下绝缘材料表面电荷积聚特性及抑制措施的研究已成为国际上的热点,本文对此进行系统性的综述,包括:表面电荷测试的常用技术和电荷反演算法,表面电荷的积聚途径及相应来源,表面电荷积聚的仿真模型,表面电荷积聚的影响因素及调控措施.最后,对表面电荷积聚下一步的研究工作给出了建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅明利		28	308	10.0	17.0
2	卓然		10	59	6.0	7.0
3	唐炬	武汉大学电气工程学院	20	226	10.0	15.0
4	潘成	武汉大学电气工程学院	8	25	2.0	5.0
5	王邸博		2	0	0.0	0.0