基于测试充分性准则的非死锁并发缺陷定位方法

• 作者: 乔禹 王皓钦 郑征 陈诚
• 来源期刊: 计算机科学
• 学科: 工学
• 关键词: 平发程序 软件测试 软件缺陷定位
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 第六届全国软件分析测试与演化学术会议
• 页码范围: 195-201
• 页数: 7页
• 分类号: TP311
• 字数: 8346字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11896/j.issn.1002-137X.2017.11.030

摘要

并发程序的非确定性使得其调试工作异常困难.基于程序谱的软件缺陷定位方法虽然能够缓解该情况,但其定位结果依赖于调试信息.针对在此过程中难以获得调试信息及如何选择利用调试信息的问题,提出了一种基于测试充分性准则的缺陷定位方法,该方法包括3个部分:预测满足测试充分性准则的条件;制定相应的测试方案;将收集到的调试信息用于缺陷定位分析.依据此方法,用C#语言实现了缺陷定位工具——ConFinder.在含有实际并发缺陷的程序上进行实验,结果表明该方法可以有效找出引起程序失效的原因并且所得结果具有很好的稳定性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑征	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	16	127	7.0	11.0
2	陈诚	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	2	1	1.0	1.0
3	王皓钦	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	1	0	0.0	0.0
4	乔禹	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	1	0	0.0	0.0