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摘要:
本文所介绍的系统通过STM32系列单片机搭载ATT7022CU高精度三相电能集成芯片实现对电量参数的采集与测量,并通过LabVIEW所搭建的上位机平台实现电能质量分析、实时检测、远程监视等功能.
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内容分析
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文献信息
篇名 基于LabVIEW的电能质量分析系统的研究
来源期刊 电子测试 学科
关键词 LabVIEW 电能质量 ATT7022CU 仿真
年,卷(期) 2017,(3) 所属期刊栏目 设计与研发
研究方向 页码范围 20,74
页数 2页 分类号
字数 1472字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吕英俊 39 183 8.0 13.0
2 刘欢 13 17 2.0 3.0
3 于鹏 2 0 0.0 0.0
4 王雅倩 3 1 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
LabVIEW
电能质量
ATT7022CU
仿真
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
总被引数(次)
36145
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