一种常用数字电路芯片功能检测系统

• 作者: 刘艳 唐海贤 张斌 景昊 高茜
• 来源期刊: 实验室研究与探索
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 芯片检测 实践教学
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 仪器设备研制与开发
• 页码范围: 68-71
• 页数: 4页
• 分类号: TN606|G642.0
• 字数: 3638字
• 语种: 中文

摘要

开发了一种芯片功能检测系统,该系统基于实践教学中的与非门、反相器、数据选择器、计数器、译码器、显示译码器等常用芯片进行设计,由上位机和硬件电路两部分组成.上位机用以实现对芯片功能表或真值表的输入、管理及发送;硬件电路负责接收功能表或真值表信号并完成芯片的检测,得出芯片是否损坏或功能是否正常的结果,并显示或报警.本系统可以降低数字电路实践中检测芯片的难度和复杂度,并提高准确度,为实验结果的正确性奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张斌	河海大学物联网工程学院	6	35	4.0	5.0
2	刘艳	河海大学物联网工程学院	31	278	10.0	16.0
3	唐海贤	河海大学物联网工程学院	2	4	2.0	2.0
4	景昊	河海大学物联网工程学院	2	4	2.0	2.0
5	高茜	河海大学物联网工程学院	3	8	2.0	2.0