辉光放电质谱法检测高纯硒化镉中的杂质元素

• 作者: 朱刘 李瑶 谭秀珍 邓育宁
• 来源期刊: 广州化工
• 学科: 化学
• 关键词: 辉光放电质谱法 硒化镉粉末 铟 电感耦合等离子体质谱法 杂质元素
• 年，卷（期）: 2017,（21）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 102-104
• 页数: 3页
• 分类号: O657.63
• 字数: 2921字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9677.2017.21.037

摘要

采用辉光放电质谱法(GDMS)测定了高纯硒化镉粉末中的B、Na、Mg等24种杂质元素.采用铟作为粘结剂,把硒化镉粉末直接压在铟上,考察了样品的制样量对基体信号强度和稳定性的影响.同时对检测过程中产生的多原子离子干扰和多电荷离子干扰进行了确认和排除.3批高纯硒化镉粉末的GDMS检测结果表明,对于小于0.1 mg/kg级别的痕量元素,其相对标准偏差小于20%.与电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)的结果比对,数据吻合性较好,表明GDMS检测高纯硒化镉具有很好的精密度和准确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱刘		26	36	4.0	5.0
2	谭秀珍		5	2	1.0	1.0
3	李瑶		5	2	1.0	1.0
4	邓育宁		2	2	1.0	1.0