单片机教学系统驱动芯片测试装置的设计

• 作者: 陈雅妮 高原
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: STC15F2K61S2 芯片检测
• 年，卷（期）: 2017,（20）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 20-21
• 页数: 2页
• 字数: 762字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2017.20.010

摘要

针对DTHS-A单片机实验平台的日常维护需要设计了该测试装置,该装置能够快速的检测实验电路中驱动芯片是否正常,与传统方法相比,节约了维护的时间,提高了检测效率.该装置以STC15F2K61S2为控制核心,通过按键与拨码开关来选择对应芯片,通过液晶显示与LED指示芯片是否正常,同时具有过流保护功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高原	曲阜师范大学实验教学中心	7	4	1.0	1.0
2	陈雅妮		3	1	1.0	1.0