基于序贯相似性与光源自动调节的芯片表面缺陷检测算法

• 作者: 冯莉 龚子华
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 缺陷检测 图像处理 光源自动调节 序贯相似性检测 线检测
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 信号与图像处理
• 页码范围: 58-62
• 页数: 5页
• 分类号: TN911.73-34|TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2017.05.015

摘要

为了解决当前缺陷检查算法在保护罩反光环境下易导致采集芯片连接器图像光照不均,使其缺陷检测精度较低,无法精确定位出浅插与破损的不足,设计了基于序贯相似性检测匹配与光源自动调节的芯片连接器表面缺陷检测识别算法.首先,基于序贯相似性检测匹配,定位出连接器位置,提取出连接器不良常发区域;然后设计了光源自动调节机制,视觉软件通过光源数字控制器SDK与网线触发光源关闭或调暗,消除保护罩反光对图像质量的影响;最后采用线检测,统计缺陷区域二值图特征,完成缺陷检查.实验数据显示,与当前缺陷检查技术相比,在面对保护罩反光严重环境下的芯片连接器缺陷检查时,该算法具有更高的检查精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚子华		6	16	2.0	4.0
2	冯莉	厦门大学信息科学与技术学院	10	16	2.0	3.0