一种Mbist新型算法March 3CL的设计

• 作者: 丁艳芳 李小进 李玲玲 陈之超
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: SRAM 存储器內建自测试 三单元耦合故障 March算法 可测性设计
• 年，卷（期）: 2017,（22）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 50-52,47
• 页数: 4页
• 字数: 2364字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2017.22.023

摘要

制造工艺的不断进步,嵌入式存储器在片上系统芯片中的集成度越来越大,同时存储器本身也变得愈加复杂,使得存储器出现了一系列新的故障类型,比如三单元耦合故障.存储器內建自测试技术是当今存储器测试的主流方法,研究高效率的Mbist算法,是提高芯片成品率的必要前提.以SRAM的7种三单元耦合故障为研究对象,通过分析故障行为得到三单元耦合的72种故障原语,并且分析了地址字内耦合故障的行为,进而提出新的测试算法March 3CL.以2048X32的SRAM为待测存储器,利用EDA工具进行了算法的仿真,仿真结果表明,该算法具有故障覆盖率高、时间复杂度低等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小进	华东师范大学信息科学技术学院	32	83	5.0	7.0
2	李玲玲	华东师范大学信息科学技术学院	2	1	1.0	1.0
3	丁艳芳	华东师范大学信息科学技术学院	5	16	2.0	4.0
4	陈之超	华东师范大学信息科学技术学院	1	0	0.0	0.0