基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨

• 作者: 潘慧峰
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: FPGA 集成电路 测试系统设计
• 年，卷（期）: 2017,（22）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 26-27
• 页数: 2页
• 字数: 1653字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2017.22.011

摘要

随着集成电路的功能以及各种参数的大量增加,要想保证电路的可靠性,就必须重视集成电路的测试功能,在传统的测试过程中,对集成电路的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的.这种测试方法测试效率低,无法实现大规模大批量的测试.为此,本文分析了基于FPGA集成电路测试系统的优越性,并选取某集成电路的老化测试系统设计为例进行重点探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘慧峰		2	7	2.0	2.0