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适合开发逻辑的单片机测控技术教学思路
适合开发逻辑的单片机测控技术教学思路
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摘要：
本文分析了单片机测控技术课程教学实践的现状和成因,结合企业开发逻辑提出该课程教学改革的可行思路.
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电子测试
主办单位：
北京自动测试技术研究所
出版周期：
半月刊
ISSN：
1000-8519
CN：
11-3927/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市100098－002信箱
邮发代号：
82-870
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
19588
总下载数（次）
63
总被引数（次）
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