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摘要:
2017年10月9日至13日,由中国分析测试协会主办的第十七届北京分析测试学术报告大会(BCEIA2017)在北京国家会议中心举办。会议期间,科技部黄卫副部长,原科技部副部长大会主席程津培院士和科技部有关司局领导分5批到场参观指导。
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 “会”聚群贤--直击BCEIA第十七届北京分析测试学术大会
来源期刊 中国会展 学科 经济
关键词 学术报告 测试 北京 “会” 科技部 副部长 黄卫
年,卷(期) zghz_2017,(24) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 48-50
页数 3页 分类号 F127.55
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 裴超 161 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
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学术报告
测试
北京
“会”
科技部
副部长
黄卫
研究起点
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期刊影响力
中国会展
半月刊
1674-3598
11-4807/F
大16开
北京市朝阳区曙光西里甲6号时间国际1号楼
2-476
2000
chi
出版文献量(篇)
15774
总下载数(次)
47
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