液晶显示器Mura缺陷及测量方法浅析

• 作者: 张鹏 杨叶花 王潇潇 谭山 马婷婷 黄锋
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: LCD Mura缺陷 人工视觉识别法 机器视觉
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 字数: 2782字
• 语种: 中文

摘要

Mura缺陷是液晶显示器(LCD)中常见的不良现象,直接影响到显示图像质量.本文对液晶显示器Mura缺陷进行了详细的综述,首先概述了Mura缺陷的种类及主要来源,然后介绍了Mura缺陷的三类测量方法:人工视觉识别法、电学测量法、光学测量法.人工视觉识别法利用滤光片观察样品,成本较低,但无法做到客观的评定产品等级;电学测量法适用于电气缺陷造成的Mura;基于机器视觉的光学测量法是当前研究的热点,对于各种原因造成的Mura缺陷均具有良好的检测效果.详细分析了各种检测方法的特点,最后进行归纳总结.