综合化核心处理平台测试性设计探讨

• 作者: 俞大磊 周勇 赵航 韩强
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 机内测试 自动测试系统 故障预测与健康管理
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 科技论坛
• 页码范围: 136,135
• 页数: 2页
• 字数: 1834字
• 语种: 中文

摘要

综合化技术的发展对产品的测试性提出了很高的要求,文章对核心处理平台的测试性设计进行了探讨,重点从机内测试系统、自动测试系统和故障预测与健康管理三方面对测试性设计进行分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵航		8	12	2.0	3.0
2	韩强		11	55	5.0	7.0
3	俞大磊		9	20	3.0	4.0
4	周勇		9	1	1.0	1.0