自动测试系统及其测试仪器校准周期确定的分析

• 作者: 叶嘉彬 黎斐
• 来源期刊: 信息通信
• 学科: 工学
• 关键词: ATS 校准周期 可靠指标 数据补偿
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 专业论坛
• 页码范围: 268-269
• 页数: 2页
• 分类号: TP274
• 字数: 2644字
• 语种: 中文

摘要

介绍了自动测试系统硬件结构和软件结构;阐述了ATS测试目的、标准、测试方法、原则以及测试的过程;分析了ATS及测试仪器可靠性指标确定的方法,校准周期的确定以及校准数据处理和补偿的方法,对于预置的测量可靠性指标确定最佳的校准周期,可有效优化、延长测试系统的校准周期.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶嘉彬		1	0	0.0	0.0
2	黎斐		1	0	0.0	0.0