电极留边量对高压瓷介电容器耐电强度的影响

• 作者: 吕凯 王彦博 邱红松 韩建宏 马永香 黄庚辛
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 高压瓷介电容器 电极 耐电强度 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（19）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 39-40,117
• 页数: 3页
• 字数: 1638字
• 语种: 中文

摘要

通过对不同电极留边量的高压瓷介电容器耐电强度进行测试和分析,并从中发现当电极留边量控制在0.8~1.2mm时,能够使高压瓷介电容器的合格率达到最佳值(不良率小于50PPM).从而满足了整机客户的对可靠性的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王彦博		2	0	0.0	0.0
2	邱红松		2	0	0.0	0.0
3	黄庚辛		2	0	0.0	0.0
4	韩建宏		2	0	0.0	0.0
5	吕凯		2	0	0.0	0.0
6	马永香		2	0	0.0	0.0