三波长一体化插回损测试仪的设计与实现

• 作者: 张一琪 徐瑞
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 插入损耗 回波损耗 光纤通信 长度测试
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 创新实践
• 页码范围: 132,134
• 页数: 2页
• 分类号: TN29
• 语种: 中文
• DOI: 10.15913/j.cnki.kjycx.2017.11.132

摘要

现今光纤通信网络已普及,而链路损耗测试是光纤通信网络研制铺设与日常维护中的必测项目.针对当前光纤通信网络中链路损耗测试仪表功能单一、效率低下问题,设计并实现了三波长一体化的插回损测试仪,波长覆盖1310 nm、1490 nm、1550 nm,可快速实现光纤链路的插损、回损及光纤长度测试.试验结果表明,该测试仪操作简便、测试效率高,具有一定的推广应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐瑞	中国电子科技集团公司第四十一研究所	1	1	1.0	1.0
2	张一琪	中国电子科技集团公司第四十一研究所	1	1	1.0	1.0