试论电子元器件的可靠性与检测筛选

• 作者: 任珺 张宇 董梁
• 来源期刊: 通讯世界
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 可靠性 老化
• 年，卷（期）: 2017,（21）
• 所属期刊栏目: 论述
• 页码范围: 354
• 页数: 1页
• 分类号: TN60
• 字数: 1748字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4222.2017.21.251

摘要

电子元器件作为电子设备和电子系统的基础,它的可靠性会对电子设备工作效能的有效发挥产生直接的影响.基于此,本文先是介绍了电子元器件的可靠性,然后阐述了电子元器件检测筛选的基本条件和人员要求、外观检查的内容和标准、筛选和老化以及电子元器件参数性能的检测.目的是为了提高电子元器件的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张宇		8	11	2.0	3.0
2	董梁		4	13	2.0	3.0
3	任珺		5	16	3.0	4.0