涂硼多丝正比室中子探测效率模拟

• 作者: 唐群玉 王小胡
• 来源期刊: 产业与科技论坛
• 关键词: 涂硼多丝正比室 中子探测器 模拟研究
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 科技创新
• 页码范围: 80-81
• 页数: 2页
• 字数: 1732字
• 语种: 中文

摘要

针对双面涂硼的单层多丝正比室结构,利用MCNP和SRIM等软件对不同技术参数下探测器的热中子探测效率进行了模拟研究.对天然B4C以及纯10B两种材料,模拟计算了探测器探测效率随涂层厚度的变化规律.结果表明,涂层材料为天然B4C以及纯10B时,硼涂层的最优厚度分别为3.5μm、2.9μm,对应的探测器的热中子探测效率分别为2.2%、11.5%.利用MCNP软件对中子入射窗材料及厚度对热中子的吸收率进行了模拟研究,结果表明铝合金为合适的选择,当其厚度为2mm时对热中子的吸收小于1%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐群玉		2	0	0.0	0.0
2	王小胡		1	0	0.0	0.0