SOC与单片机应用技术的发展

• 作者: 刘佳璐
• 来源期刊: 通讯世界
• 学科: 工学
• 关键词: 水平测试仪 SOC型单片机 温度变化补偿
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 论述
• 页码范围: 265-266
• 页数: 2页
• 分类号: TN402
• 字数: 1885字
• 语种: 中文

摘要

在CW模式水平测验装置的研发过程中,选取SOC型单片机给水平测验仪作其测试结果的温度变化弥补工具.SOC型单片机具备和MCS-51内核以及指令集合整体并蓄的微型控制装置,其片中也融入了十二级高速A/D切换装置、12级D/A切换装置及温度感应器件等仿真机构.依托单片机内汇集的A/D切换装置收录水平测试装置的传出讯息,利用FIR数字型波形过滤装置排除噪声及异常混乱讯息,之后再依照温度感应器参数和经测试校准的水平测试表温度逐级漂移实施多区位分段式线型调制,进而缩小水平测试仪测试过程中所处环境温度的逐级漂移数据偏差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘佳璐		1	1	1.0	1.0