电子元件的老化与筛选

• 作者: 庄武良
• 来源期刊: 电脑迷
• 关键词: 电子元件 质量控制 方法
• 年，卷（期）: 2017,（14）
• 所属期刊栏目: 电化教育
• 页码范围: 109
• 页数: 1页
• 字数: 2037字
• 语种: 中文

摘要

本文主要对电子元件失效进行概述,并分析了电子元件失效的原因,分析了电子元件的老化与筛选方法以及电子元件老化与筛选的试验装置和系统,最后,对电子元件的老化筛选质量控制措施进行探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄武良		10	5	1.0	2.0