增强质子背散射方法对薄靶中轻元素的测定

• 作者: 付月丹 付涛
• 来源期刊: 建材与装饰
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2017,（40）
• 所属期刊栏目: 经济·管理·综述
• 页码范围: 92
• 页数: 1页
• 分类号: O571
• 字数: 1346字
• 语种: 中文

摘要

本文采用能量为2MeV的质子束入射Mo基底表层Ti(He)薄靶,测量了散射角160°方向上的背散射能谱,用SIMNRA进行了拟合.SIMNRA虽然在计算多次散射影响时采用了双散射近似,并且使用元素的卢瑟福散射截面代替非卢瑟福散射截面.研究表明对He、O、Si这类较轻的非卢瑟福散射元素,SIMNRA能够较好地处理对其的模拟.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付涛	成都理工大学工程技术学院	3	0	0.0	0.0
2	付月丹	成都理工大学工程技术学院	3	0	0.0	0.0