温度对不同厚度聚酰亚胺表面充电的影响

• 作者: 原青云 周立栋 孙永卫 王松 蒙志成
• 来源期刊: 推进技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 温度 厚度 聚酰亚胺 表面充电 平衡电位
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 材料推进剂燃料
• 页码范围: 912-919
• 页数: 8页
• 分类号: V255
• 语种: 中文
• DOI: 10.13675/j.cnki.tjjs.2018.04.024

摘要

为了研究不同厚度聚酰亚胺在温度变化情况下的带电程度,利用自行研发的温度可控的航天器介质材料表面带电综合实验系统,对不同厚度的聚酰亚胺在不同温度情况下进行表面充电实验,设置电子能量为25keV,电子束流密度分别为0.5,1,2nA/cm2.实验结果表明:温度不变的情况下,随着厚度的增大,试样表面充电平衡电位逐渐增大;厚度不变的情况下,随着温度的升高,试样表面充电平衡电位逐渐减小.当温度在273～363K时,聚酰亚胺试样厚度越大,温度变化对其表面充电平衡电位的变化影响越大.当温度在243～273K时,聚酰亚胺试样厚度越大,温度变化对其表面充电平衡电位的变化影响越小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙永卫	军械工程学院静电与电磁防护研究所	64	408	12.0	16.0
2	原青云	军械工程学院静电与电磁防护研究所	50	325	12.0	15.0
3	周立栋	军械工程学院静电与电磁防护研究所	7	8	2.0	2.0
4	蒙志成	军械工程学院静电与电磁防护研究所	10	11	2.0	2.0
5	王松	军械工程学院静电与电磁防护研究所	19	74	6.0	7.0