光反馈光腔衰荡技术同时测量高反膜S和P偏振反射率

• 作者: 崔浩 李斌成 王亚非 王静 肖石磊 高椿明
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体激光 高反膜 测量 光反馈光腔衰荡 偏振光反射率
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 光电子学工程与应用
• 页码范围: 307-310
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2039字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2018.02.024

摘要

提出采用光反馈光腔衰荡技术同时测量高反膜的S(垂直于入射平面)和P(在入射平面内)偏振反射率的方法,通过将一束具有一定偏振比、光强方波调制的偏振光入射到衰荡腔中,在调制方波下降沿记录从衰荡腔腔镜透射的光腔衰荡信号,通过双指数拟合得到S、P相应的衰荡时间,从而计算得到高反膜S、P偏振光的反射率.与采用纯S(P)光测量得到的偏振反射率相比,S和P偏振反射率偏差分别仅为1 ppm和15 ppm,证明了同时测量结果的正确性.与传统光腔衰荡测量高反膜偏振反射率方法相比,该测量方法装置简单,操作方便,测量更快速.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亚非	电子科技大学光电信息学院	60	319	10.0	13.0
2	崔浩	电子科技大学光电信息学院	11	33	3.0	5.0
3	高椿明	电子科技大学光电信息学院	40	167	7.0	10.0
4	王静	电子科技大学光电信息学院	35	120	7.0	9.0
5	李斌成	电子科技大学光电信息学院	11	31	3.0	5.0
6	肖石磊	电子科技大学光电信息学院	2	2	1.0	1.0