电子产品可靠性增长试验综述

• 作者: 孙国强 廖军 翁雷
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性增长试验 国产服务器 薄弱环节
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 环境适应性和可靠性
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.5
• 字数: 3752字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2018.01.008

摘要

可靠性增长试验是产品研制阶段提高其可靠性的一种试验手段,其目的是为了充分暴露产品潜在故障,分析故障原因,进而提出改进意见并验证改进的有效性.本文针对国产服务器设计上、工艺上存在的薄弱环节,对其进行可靠性增长试验研究,重点介绍可靠性增长试验方案设计中的关键要素,阐述可靠性增长试验方法及实施步骤,并针对国产服务器可靠性增长试验给出方案设计及应用案例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翁雷		1	2	1.0	1.0
2	廖军		1	2	1.0	1.0
3	孙国强		1	2	1.0	1.0