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摘要:
专用集成电路(ASIC)基于用户的具体需求研发,在体积、功耗、成本及抗辐射等方面有明显优势,在航天器中的应用日益增长.ASIC研发过程非常复杂,可靠性保证是确保ASIC成功应用的关键环节.过程保证作为一种支持性保证过程,应存在于ASIC整个生命周期中.分析了国内外宇航ASIC研发和过程保证的现状,提出了宇航专用ASIC过程保证的方法,并给出了ASIC各研发阶段过程保证的具体要求.
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如何保证集成电路的测试质量
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硬件
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结果分析
管理
CMOS集成电路的抗辐射设计
CMOS集成电路
抗辐射加固
总剂量效应
单粒子效应
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 宇航专用集成电路研发的过程保证
来源期刊 质量与可靠性 学科
关键词 ASIC 过程保证 研发
年,卷(期) 2018,(6) 所属期刊栏目 元器件质量管理专栏
研究方向 页码范围 49-52
页数 4页 分类号
字数 4846字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱恒静 9 7 2.0 2.0
2 祝名 4 2 1.0 1.0
3 王彤 3 1 1.0 1.0
4 汪悦 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
ASIC
过程保证
研发
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
质量与可靠性
双月刊
2096-6768
11-2175/V
大16开
北京市西城区月坛北小街2号院1号楼
1986
chi
出版文献量(篇)
1262
总下载数(次)
2
总被引数(次)
2450
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