标准平面源与探测器窗的一致性对α、β表面污染仪表面发射率响应测量结果影响及修正

• 作者: 唐方东 李小双 陆小军 韩刚
• 来源期刊: 上海计量测试
• 关键词: 表面发射率响应 标准平面源 探测器 几何立体角
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 2-4
• 页数: 3页
• 字数: 1906字
• 语种: 中文

摘要

表面发射率响应是 α、β 表面污染仪的主要计量性能参数,按照JJG 478-2016中的测量方法,实验探讨平面源活性区面积与探测器窗面积不一致对 α、β 表面污染仪表面发射率响应测量结果的影响.结果显示,当标准平面源活性区面积大于或小于探测窗面积时,表面发射率响应测量结果会偏大,标准平面源活性区面积与探测窗面积差异在 ±20%以内时,α、β 表面污染仪表面发射率响应测量值的变化均近似线性,且探测器窗面积较大,则表面发射率响应测量值的偏差也较大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐方东		47	101	5.0	7.0
2	陆小军		20	23	3.0	4.0
3	李小双		10	4	1.0	1.0
4	韩刚		9	3	1.0	1.0