卫星用进口裸芯片可靠性评价方案设计与应用

• 作者: 兰博 包雷 吕梦琴 王瑞曾
• 来源期刊: 质量与可靠性
• 关键词: 进口裸芯片 可靠性 评价方案 评价试验
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 元器件质量管理专栏
• 页码范围: 44-48
• 页数: 5页
• 字数: 4402字
• 语种: 中文

摘要

目前卫星型号组件研制过程中往往采用进口裸芯片,如何提高进口裸芯片可靠性成为了型号组件应用的难题之一.描述了进口裸芯片评价方案设计的基本思路、基本要求,列出了裸芯片评价试验的设计步骤、目的及可暴露的缺陷,并通过实例说明了评价方案设计过程,同时也指出了目前实施过程中出现的问题,有利于推动进口裸芯片评价工作的开展,并进一步提升裸芯片的装机可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包雷	中国电子科技集团公司第五十五研究所	3	6	1.0	2.0
2	吕梦琴	中国电子科技集团公司第五十五研究所	2	7	1.0	2.0
3	王瑞曾	中国电子科技集团公司第五十五研究所	5	10	2.0	2.0
4	兰博	中国电子科技集团公司第五十五研究所	1	1	1.0	1.0